絕緣測(cè)試儀 ST5520價(jià)格
更新時(shí)間：2024-09-12
產(chǎn)品特點(diǎn):
絕緣測(cè)試儀 ST5520介紹：實(shí)現(xiàn)了“高速"絕緣電阻檢查Z快50ms的高速判斷快速釋放殘留電壓任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值（25～1000V（1V分辨率）設(shè)置）
絕緣測(cè)試儀 ST5520介紹：實(shí)現(xiàn)了“高速"絕緣電阻檢查Z快50ms的高速判斷快速釋放殘留電壓任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值（25～1000V（1V分辨率）設(shè)置）
產(chǎn)品介紹
絕緣測(cè)試儀 ST5520介紹：
絕緣測(cè)試儀 ST5520實(shí)現(xiàn)了業(yè)界內(nèi)zui快檢查時(shí)間50ms（0.05s），從而縮短了檢查時(shí)間。此外，為了防止由于測(cè)試線的斷線和被測(cè)物接觸不良的原因流出不良品，安裝了接觸檢查功能。而且，為了滿足各廠家的檢查需求，在25~1000V的測(cè)試電壓中能以1V為單位進(jìn)行設(shè)定。
絕緣測(cè)試儀 ST5520主要特點(diǎn)：
絕緣電阻測(cè)試儀ST5520，ST5520-01（BCD輸出）
實(shí)現(xiàn)了“高速”絕緣電阻檢查
zui快50ms的高速判斷
快速釋放殘留電壓
任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值（25～1000V（1V分辨率）設(shè)置）
接觸檢查功能（防止由于接觸不良造成的誤判斷）
短路檢查功能（防止不合格品流入市場(chǎng)）
絕緣測(cè)試儀 ST5520技術(shù)參數(shù)：
| 測(cè)試項(xiàng)目 | 絕緣電阻（直流電壓施加方式） |
| 測(cè)試電壓/測(cè)量量程 （手動(dòng)/自動(dòng)） | 25 V ≦ V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ), 100 V ≦ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ), 500 V ≦ V ≦ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ) |
| 基本精度 | ±2 % rdg. ±5 dgt. 25 V ≦ V < 100 V [0～20 MΩ], 100 V ≦ V < 500 V [0～20 MΩ], 500 V ≦ V ≦ 1000 V [0～200 MΩ] |
| 測(cè)試速度 | FAST：30ms/次，SLOW：500ms/次（切換） |
| 顯示屏 | LCD (壽命100,000小時(shí)),背光燈4階段 |
| 存儲(chǔ)功能 | 保存內(nèi)容：額定測(cè)量電壓、比較器上下限值、測(cè)試模式、判定時(shí)蜂鳴音、測(cè)試時(shí)間、響應(yīng)時(shí)間、電阻量程、測(cè)量速度 存儲(chǔ)數(shù)：zui多10組（可保存/讀取） |
| 測(cè)試模式 | 連續(xù)模式、PASS STOP模式、FAIL STOP模式、強(qiáng)制結(jié)束時(shí)判定模式（切換） |
| 比較設(shè)置 | UPPER_FAIL：測(cè)量值≧上限值 PASS： 上限值＞測(cè)量值＞下限值 LOWER_FAIL：測(cè)量值≦下限值 |
| 判定處理 | 蜂鳴音、PASS/U.FAIL/L.FAIL 的LED 燈亮，UL_FAIL時(shí)U.FAIL/L.FAIL同時(shí)燈亮，EXT. I/O 輸出、通過RS-232C獲取判定結(jié)果 |
| 試驗(yàn)時(shí)間計(jì)時(shí)器 | 0.045 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率），從施加電壓到判定合格與否的時(shí)間 |
| 響應(yīng)時(shí)間計(jì)時(shí)器 | 試驗(yàn)開始后，禁止按照0.005 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率）設(shè)置比較器判定動(dòng)作的時(shí)間 |
| 模擬輸出 | DC +4 V f.s. |
| 接口 | RS-232C（標(biāo)配），外部I/O（外部控制器用輸入，判定結(jié)果輸出），BCD輸出（僅限ST5520-01） |
| 電源 | AC100 V ～ 240 V，50/60Hz，zui大25VA |
| 體積及重量 | 215W×80H×166Dmm，1.1kg |
| 附件 | 操作說明書×1、電源線×1、EXT.I/O連接器×1、連接器蓋×1 |
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